本项目针对适合于SOC的射频电路对高性能金属/绝缘体/金属(MIM)电容器的要求,用原子层淀积(ALD)技术制备Nb2O5/HfO2和Nb2O5/Al2O3等纳米叠层高介电常数复合介质薄膜,研究绝缘薄膜的组成和结构、金属材料对MIM电容中漏电行为、电容电压系数、电容的频率特性、金属/绝缘体的界面特性等的影响机理,同时对介质薄膜在金属衬底上的生长机理和ALD过程中界面层的抑制进行研究。并在前面的研究
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数据更新时间:2023-05-31
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