典型绝缘结构中纳秒级放电机理研究

采用多种超宽频带局部放电检测技术并结合空间电荷动态测量、绝缘结构微观分析，研究典型绝缘结构中纳秒级单次放电规律，研究典型绝缘结构多因子老化过程中纳秒级放电电流时域频域特性的变化规律与绝缘内部微观结构的变化及剩余寿命的关系，认识纳秒级放电机理。本研究有助于促进绝缘诊断理论的发展，对提高绝缘诊断的准确性和可靠性具有重要意义。