高密度金属簿膜磁盘磨损特性的研究
基本信息
批准号：58870189
项目类别：面上项目
资助金额：3.00
负责人：裴先登
学科分类：
依托单位：华中科技大学
批准年份：1988
结题年份：1990
起止时间：1989-01-01 - 1990-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：赵永龙,骆新国,倪培农
关键词：
磨损特性薄膜磁盘
结项摘要
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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