空间天文观测用CCD器件的辐射损伤的实验研究

空间观测使用的探测器CCD芯片所必须面对的空间环境中高能辐射会对其造成损伤，使其转移效率、暗电流和噪声等主要性能指标劣化，劣化程度与辐射剂量和射线能量有关。天文观测科学卫星一般任务时间较长，对探测器指标要求通常又都很高，因此必须对CCD的辐射特性进行充分的了解和评估，这已经成为的我国空间望远镜项目立项的必要条件。本项目将进行现代科学级CCD芯片的辐射特性研究，研究一套系统的辐射特性评估方法，为我国空间天文观测任务CCD器件选型提供依据和方法指导，并希望以此为切入口，开始天文探测器的空间化技术的研究，以迎接我国自己的空间天文观测的早日实现。