离子径迹电光学性质的THz光谱测量研究

利用太赫兹（THz）光谱技术，研究离子辐照材料在此频段的色散关系，探讨离子径迹的结构、取向和分布对测量结果的影响，并利用有效介质理论分析提取离子径迹区域物质的电光学性质。具体有：（1）探测荷能质子束、氦离子束和重离子束（Ar、Xe离子）辐照有机材料（几种聚合物）和无机材料（Si、SiO2、Al2O3）的THz光谱，研究它们与辐照剂量和电子能损之间的关系，探讨离子径迹结构与分布对THz光谱参数的影响；（2）利用有效介质理论，并借助于电子显微镜技术、红外紫外光谱技术以及电化学蚀刻技术，分析辐照材料THz光谱并提取离子径迹区域物质的电学和光学性质，研究这些性质与离子种类、材料结构和电子能损之间的关系。.成果将对利用辐照技术研制微电光器件以及THz光谱技术所需材料提供数据和依据。