电子设备静电放电抗扰度试验关连性研究
基本信息
批准号：50477053
项目类别：面上项目
资助金额：25.00
负责人：黄久生
学科分类：
依托单位：中国人民解放军63961部队
批准年份：2004
结题年份：2007
起止时间：2005-01-01 - 2007-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：邓启斌,刘芳,刘培柱,陈政新,孙中炜
关键词：
抗扰度试验关连性静电放电电磁兼容
结项摘要
静电放电(ESD)抗扰度试验是电磁兼容(EMC)试验和测试技术的一项非常重要的试验之一，也是检验电子设备能否在复杂的电磁环境中可靠性运行的性能之一。本项目是研究电子设备静电放电抗扰度(ESD immunity)试验的关连性问题，深入研究静电放电产生的电流和辐射的电磁场对电子设备造成的影响的相关性，为现代电子设备的电磁兼容性认证提供静电放电抗扰度试验的理论依据和技术，从而解决目前国际国内静电放电抗扰度试验结果的不一致性难题，本项目的完成对目前国际国内电子设备的电磁兼容性认证、提高电子设备的可靠性具有重要意义。
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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