质膜完整性对脑外伤后神经元存活/死亡的影响及分子机制探讨

脑外伤（traumatic brain injury, TBI）后神经元死亡机制已被深入研究，但急性损伤的神经细胞在脑内能够存活多久以及是否可恢复等根本问题仍未解决。传统理论认为机械外力直接导致了细胞质膜完整性破坏，使原本不能透过质膜的荧光染料能够进入受损细胞并与其DNA或RNA结合，这给研究受伤神经细胞命运提供了依据和手段。本项目利用我们多年研究TBI后神经细胞死亡机制的经验，用小鼠定量TBI模型和原代培养神经元牵拉损伤模型等，证明除机械力外TNF/Fas信号通路也参与了质膜完整性的破坏过程，并应用膜修复剂-P188研究质膜修复对TBI后膜损伤的神经细胞命运的影响并探讨其分子机制，同时应用TNF/Fas死亡通路阻滞剂Nec-1和RNAi干扰技术以及行为学检测等方法，从生物化学和功能学等方面证明维护生物膜完整性是临床治疗脑外伤的重要靶点。