二维微区的完整磁光克尔参数测量和分析

本项目将研究和发展一种基于新型测量方法的新型的二维磁光克尔效应测试系统，其具有高分辨率、高速度、高稳定性的特点，并且材料微区的克尔椭偏率和克尔转角数据均可与获得。通过该方法可获得的百万象素的克尔信号和材料微区磁和磁光性质的形貌图，研究结果可以揭示微区磁特性。所发展的微区无损磁探测方法将在工业中获得应用。因此，本项目具有重要的基础和应用价值和意义。